В случае ФМР есть сильная зависимость по резонансным частотам, ширине резонансных линий и виду спектров от типа структурных неоднородностей: порошковые частицы, нити или пленки. В ряде случаев есть зависимость по виду спектров от ориентации во внешнем магнитном поле. Например, для пленок при параллельной ориентации плоскости пленки во внешнем магнитном поле можно наблюдать один резонансный пик (достаточно узкий) для однослойных пленок Co, CoNi, или два пика от разных областей намагниченности для мультислойных пленок Co/CoNi, при это при перпендикулярной ориентации пленки во внешнем магнитном поле мы наблюдали спектры СВР и для однослойных и мультислойных пленок, что говорит о сквозном магнитном взаимодействии внутри пленки по всей толщине образца. При этом, в целом форма "макро" образца, вырезанного из пленки на виды спектров не влияют (влияние ощущается на интенсивность сигнала: интенсивность падает в зависимости от размера образца), обычно мы вырезаем образец в виде прямоугольника 2 мм на 5 мм, но можно вырезать и квадратик и круг.