添付のような2万部品からなるモデルに干渉がないことを確認したい場合、
トップアセンブリからセット1でトップアセンブリ上のすべてのコンポーネントを選ぶと、末端の全パーツの総当たりとなり、2億通り近い計算数になり、数十時間を要するため現実的ではありません。
※干渉を総当たりでチェックする組み合わせ数はパーツ数に対して指数関数的に増える。
一方、トップアセンブリにサブアセンブリが10個あれば、その下の2000パーツ程度は上記のセット1の方法でも数分で確認できます。これならば設計の課程や担当者ごとに日々できるレベルです。
これを各サブアセンブリでやっておけば、サブサブアセンブリ内には干渉がないことを確認できます。
ただし、その後、トップアセンブリにある10個がそれぞれ干渉していないことを調べようと思うと、それに該当する機能がInventorにはありません。
これを解決するのが、
トップアセンブリのコンポーネントのみ総当たりするマクロというわけです。
これで大規模アセンブリの干渉解析が可能になります。