計測インフォマティクス研究会 (人工知能学会第2種研究会)
オンライン開催日 2021年11月26日(金)
開催プログラムと参加登録募集
(複数回お受け取りの場合は何卒ご容赦ください。)
第6回計測インフォマティクス研究会(人工知能学会第2種研究会:SIG-MEI)
を開催いたします。プログラムを公開しました。皆様のご参加申し込みをお待
ちしております。
(今回は人工知能学会合同研究会11月26日(金)~27日(土)[参加費無料]
https://www.ai-gakkai.or.jp/sigconf/ 傘下の開催になります。)
趣旨
現実世界から必要な情報をデジタル化して収集する計測・センシング技術は、
IoT社会が必要とするコア技術です。このような背景の下で、従来技術に留まら
ず、新しい計測・センシング技術の研究開発が多数行われています。本研究会
は、情報、物理、化学、生物など様々な面から、対象の推定原理、計測原理、
制御原理、データ構造・アルゴリズム原理、そしてそれらを用いた先端計測・
センシングのデバイス・装置、エッジコンピューティングのデバイス・アーク
テクチャ、情報処理に関する理論・手法・技術について、基礎から応用までの
幅広い研究課題を対象とします。そして、産官学の研究者と技術者が互いの研
究成果を発表し、討論する場を提供します。今回は第4回研究会を以下の通り
開催いたします。発表及び参加費は無料です。幅広い皆様の発表申し込み、参
加申し込みをお待ちしております。人工知能学会員に限らずどなたでも申し込
みいただけます。
第6回計測インフォマティクス研究会(人工知能学会第2種研究会)
HP_URL:
http://www.ar.sanken.osaka-u.ac.jp/SIG-MEI/開催日: 2021年11月26日(金)
場所 : オンライン開催いたします。間近になりましたら参加登録された方
にアクセス方法をお知らせいたします。
参加申し込み:
申し込み期間10月1日~11月21日
参加申し込みは
https://www.ai-gakkai.or.jp/sigconf/sigconf2021/registration/からです。人工知能学会合同研究会への参加申し込みとなります。聴講参加費
は無料です。参加登録いただきますと人工知能学会合同研究会の他の研究会も
聴講可能となります。人工知能学会員に限らずどなたでも申し込みいただけま
す。発表申し込み者は自動的に参加申し込みとなります。また、申し込み多数
の場合には、期間途中で受付を終了する場合があります。
問い合わせ先:
研究会主査 大阪大学 産業科学研究所 鷲尾 隆
was...@ar.sanken.osaka-u.ac.jpプログラム:11月26日(金)
(9:00 人工知能学会合同研究会全体オープニングセッション)
10:00 計測インフォマティクス研究会開会
10:00 XPS計測のデジタル化による埋もれた積層薄膜界面の時空間データ解析
豊田智史, 吉村真史, 住田弘祐, 三根生晋, 町田雅武, 吉越章隆, 吉川彰, 鈴木哲, 横山和司
10:30 汎用データ解析ソフト2DMATと全反射高速陽電子回折実験への適用
星健夫, 望月出海, 岩本晴道, 一ノ瀬颯人, 阪田大志郎, 吉見一慶, 本山裕一, 福島孝治
11:00 イットリウム酸水素化物薄膜に対する広域X線吸収微細構造のスパースモデリング
熊添博之, 五十嵐康彦, Fabio Iesari, 清水亮太, 小松遊矢, 一杉太郎,
松村大樹, 齋藤寛之,岩満一功, 岡島敏浩, 妹尾与志木, 岡田真人, 赤井一郎
11:30 効率的なベイズ分光法のための受入比率を規準とした
自動調整アルゴリズムを組み込んだレプリカ交換モンテカルロ法
岩満一功, 山﨑大雅, 熊添博之, 相原慎吾, 永田賢二, 岡田真人, 赤井一郎
12:00 昼休み(人工知能学会合同研究会スポンサー企画)
13:00 (人工知能学会合同研究会企画招待講演)
14:10 招待講演 深層学習によるスパース画像復元の高速化
原 聡 (大阪大学産業科学研究所)
15:00 平均報酬に誤差を含む分類バンディット
田畑公次, 中村篤祥,小松崎民樹
15:30 連続腕分類バンディット問題の解法アルゴリズム
林達也, 伊藤直輝, 中村篤祥, 田畑公次, 原田義規, 藤田克昌, 小松崎民樹
16:00 休憩
16:10 新しい一般化逆行列による低バイアスインバースカーネル回帰原理の提案
新家英太郎, 鷲尾隆
16:40 機械学習を用いた材料組織計測画像からのメタル温度推定の試み
遠藤瑛泰, 澤田浩太, 永田賢二, 吉川英樹, 庄野逸
17:10 視覚認知に基づく画像統計量を用いた磁区パターン解析
村上諒, 水牧仁一朗, 赤井一郎, 庄野逸
17:40 パーシステントホモロジーを用いたTEM像における
アモルファス状態の識別可能性について
上杉文彦, 石井真史
18:10 計測インフォマティクス研究会閉会
以上