我們展示了高解析電腦斷層影像之技術運作原理,並比較三維X光顯微射影與傳統微電腦幾層的差異,運用最先近的多尺度奈米成像技術,我們提供50nm解析的實驗操作平台系統,最後並展示革命性之非破壞性之四維影像及相關原發測試(in situ)之應用!
講者: Raleigh Estrada, Marketing Director, Xradia
我們展示如何運用AvizoFire的影像至模擬工作流程來預測三維X光顯微射影或CT斷層掃描所擷取影像其材料特性,透過AvizoFire所提供的體積彩現、影像圈選、三維重建與量化工具來計算材料之孔隙、連通性、絕對滲透率等相關物理參數。
講者: Dr. Mike Marsh, Imaging Applications Expert, VSG
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