IAIP2024年度第5回研究会「検査・異常検知」のご案内
Kenji Terada
お世話になっております．
寺田＠徳島大学と申します．
本年もよろしくお願いいたします．
管理人様，メンテナンスをありがとうございます．
IAIP(精密工学会 画像応用技術専門委員会)2024年度第5回研究会「検査・異常検
知」を開催いたします．日々，進化をとげている検査・異常検知にかかわる最新
の実用的な画像処理技術に関するご講演を揃えました．是非，会場まで足を運ん
でいただければと思います．なおオンラインでもご聴講いただけます．
＜IAIP 研究会＞――――――――――――――――――――――――――――
IAIP 2024年度 第5回研究会（オンラインもあり）
～ 検査・異常検知 ～
2025年1月17日(金) 14:00-17:00
中央大学後楽園キャンパス 2号館2階2221号室
〒112-8551 東京都文京区春日1-13-27
https://www.chuo-u.ac.jp/access/kourakuen/
IAIP 会員外のお申し込み：https://iaip.itlab.org/r/
IAIP 会員のお申し込み：マイページ( https://mypage.tc-iaip.org/ )
主催：IAIP(精密工学会 画像応用技術専門委員会)
――――――――――――――――＜ https://www.tc-iaip.org/research/ ＞
2024年度IAIP 第5回研究会を，2025年1月17日(金)14:00より以下の会場で開催い
たします．なお，オンラインでも聴講が可能です．IAIP 会員の方は無料，IAIP
会員以外の方の参加費は2,000円（研究会報告誌代含む）です．
●IAIP 会員(法人会員，OB会員を含む)の参加はマイページから登録下さい
●IAIP 会員以外の参加ご希望の方は以下からお申込み下さい．折り返し参加方
法をお知らせいたします⇒https://iaip.itlab.org/r/
●詳細はこちらをご覧ください⇒https://www.tc-iaip.org/research/
●IAIP 会員(年会費：個人5,000円，法人60,000円)になりますと，2か月ごとに
開催されている研究会の聴講費が無料となります．ご入会お待ちしてます．
⇒ https://www.tc-iaip.org/guidance/
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■ 企画意図：画像を用いた検査・異常検知技術は産業界では広く用いられてい
る技術であり、日々進化を続けています。今回は、これら新たな技術について知
識を深めるため、近年の異常検知技術の動向に関する講演１件と新たな検査方法
や検査システムに関する講演2件を予定しております。
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■ 話題提供(敬称略)
[講演]深層学習を用いた外観検査・異常検知
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・中塚俊介(パナソニック)
[講演]樹脂成型品の検査に適した近赤外複屈折プロファイラーの開発
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・江本顕雄(徳島大)
[講演]X線検査技術におけるAIの活用
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・藤原健(産総研)
[報告]外観検査アルゴリズムコンテスト2024 開催報告
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・寺田賢治(徳島大)
[報告]ViEW2024ビジョン技術の実利用ワークショップ開催報告
・・・・・・・・・・・・・・・・鷲見和彦(青学大)，斎藤英雄(慶大)
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■［１］講演（14：00～14：50）
「深層学習を用いた外観検査・異常検知」
パナソニック株式会社 エレクトリックワークス社
現場・ものづくり革新本部 生産技術開発部 中塚 俊介 様
◆講演概要
深層学習を用いた外観検査の自動化はニーズこそ高いものの、欠陥データの入手
性が導入の大きな障壁となっている。本講演では異常検知ベースの深層学習モデ
ルの最新動向を紹介する。
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■［２］講演（15：00～15：50）
「樹脂成型品の検査に適した近赤外複屈折プロファイラーの開発」
徳島大学 ポストLEDフォトニクス研究所 江本 顕雄 先生
◆講演概要
延伸処理や射出成型などによる樹脂成型品の検査に適した近赤外複屈折プロファ
イラーの原理および実際の観察結果等について紹介する。
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■［３］講演（16：00～16：50）
「X線検査技術におけるAIの活用」
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター
分析計測標準研究部門 藤原 健 様
◆講演概要
産業技術総合研究所では、X線検査技術にAIを組み合わせることで、周辺線量の
低減や検査精度の向上を目指している。本講演では、AIを活用した画像診断シス
テムの開発経緯や技術的な特徴、具体的な適用例、そして今後の展望について詳
しくご紹介する。
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■［４］報告
「外観検査アルゴリズムコンテスト2024開催報告」
徳島大学 寺田 賢治 委員長
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■［５］報告
「ViEW2024ビジョン技術の実利用ワークショップ開催報告」
青山学院大学 鷲見 和彦 実行委員長
慶應義塾大学 斎藤 英雄 プログラム委員長
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■ 問合せ先
公益社団法人 精密工学会
画像応用技術専門委員会 事務局（アドコム・メディア（株）内）
TEL : 03-3367-0571 FAX : 03-3368-1519
E-mail : ia...@adcom-media.co.jp
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以上，です．
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( _) | _ https://uss.ait.tokushima-u.ac.jp/?id=EhvPcNF0